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QT-3108SW 動態測試方案

低雜訊 247/TPAK 動態測試方案：由 QT-3108SW 動態測試系統與重力式分選機組成。
支援 TO247/TPAK SIC MOS IGBT 封裝元件動態參數測試。

多重安全保護

●  支援過載欠壓保護
●  RG 1-512線性可調
●  負載電感10-1100uH步進10uH
●  短路保護<1us
●  支援KGD測試針卡保護電路

測試需求，全方位覆蓋

QT-3108SW功能齊全，支援SW、ISC 、TRR（系列參數）、
ILATCH、SCSOA、QG參數測試，選配UIS。

測試應用板與分選機直連

測量範圍：0~2us
穩定度：±3%

測量範圍：0~2us
穩定度：±3%

測量範圍：0~5us
穩定度：±3%

測量範圍：0～10uC；
穩定度：±3%

測量範圍：0~100uC；
穩定度：±3%

測量範圍：0~5000 A；
穩定度：±3%

測量範圍：25~1000 A；
穩定度：±3%

測量範圍：0～10.0V；
穩定度：±3%

< 30nH

雜散電感

整合化測試，
解決線材分佈電感引起測試結果不良

	中國廣東省佛山市南海國家高新區新光源產業基地光明大道16號
	+86 757 83207313 (銷售)
	+86 757 83208786 (銷售)
	info@powertechsemi.com

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